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SNJ54BCT8374AFK

型号:

SNJ54BCT8374AFK

封装:

-

描述:

Scan Test Devices With Octal D-type Edge-Triggered Flip-Flops 28-LCCC -55 to 125

数量:

规格参数

  • 类型
    参数
    全选
  • 生命周期状态

    Production (Last Updated: 1 week ago)

  • 底架

    Surface Mount

  • 引脚数

    28

  • Positive Edge

  • 1

  • ACTIVE (Last Updated: 1 week ago)

  • Compliant

  • Active

  • 厂商

    Texas Instruments

  • Tube

  • 包装

    Rail/Tube

  • 系列

    *

  • 最高工作温度

    125 °C

  • 最小工作温度

    -55 °C

  • 频率

    70 MHz

  • 输出的数量

    8

  • 工作电源电压

    5 V

  • 极性

    Non-Inverting

  • 最大电源电压

    5.5 V

  • 最小电源电压

    4.5 V

  • 比特数

    8

  • 传播延迟

    12.5 ns

  • 接通延迟时间

    12.5 ns

  • 逻辑功能

    D-Type

  • 高电平输出电流

    -12 mA

  • 低水平输出电流

    48 mA

  • 宽度

    11.43 mm

  • 高度

    2.03 mm

  • 长度

    11.43 mm

  • 器件厚度

    1.83 mm

  • 无铅

    Contains Lead

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  • 数据表 :