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SN74BCT8373NT

型号:

SN74BCT8373NT

封装:

-

描述:

Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70

数量:

规格参数

  • 类型
    参数
    全选
  • Bulk

  • 74BCT8373

  • 厂商

    Texas Instruments

  • Active

  • 系列

    *

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