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5962-9174601QLA

型号:

5962-9174601QLA

封装:

-

描述:

Scan Test Devices With Octal Buffers 24-CDIP -55 to 125

数量:

规格参数

  • 类型
    参数
    全选
  • 表面安装

    NO

  • 终端数量

    24

  • Tube

  • 厂商

    Texas Instruments

  • Active

  • 0.300 INCH, CERAMIC, DIP-24

  • IN-LINE

  • CERAMIC, GLASS-SEALED

  • -55 °C

  • NOT APPLICABLE

  • 125 °C

  • 5962-9174601QLA

  • 5 V

  • DIP

  • RECTANGULAR

  • Defense Logistics Agency

  • Active

  • DEFENSE LOGISTICS AGENCY

  • 5.57

  • DIP

  • Military grade

  • 系列

    *

  • JESD-609代码

    e0

  • 端子表面处理

    TIN LEAD

  • 附加功能

    SUPPORTS IEEE STANDARD 1149.1-1990 BOUNDARY SCAN

  • HTS代码

    8542.39.00.01

  • 技术

    BICMOS

  • 端子位置

    DUAL

  • 终端形式

    THROUGH-HOLE

  • 峰值回流焊温度(摄氏度)

    NOT APPLICABLE

  • 功能数量

    2

  • 端子间距

    2.54 mm

  • Reach合规守则

    unknown

  • 引脚数量

    24

  • JESD-30代码

    R-GDIP-T24

  • 资历状况

    Qualified

  • 电源电压-最大值(Vsup)

    5.5 V

  • 温度等级

    MILITARY

  • 电源电压-最小值(Vsup)

    4.5 V

  • 端口的数量

    2

  • 比特数

    4

  • 家人

    BCT/FBT

  • 输出特性

    3-STATE

  • 座位高度-最大

    5.08 mm

  • 输出极性

    INVERTED

  • 逻辑IC类型

    BOUNDARY SCAN BUS DRIVER

  • 筛选水平

    MIL-PRF-38535 Class Q

  • 传播延迟(tpd)

    10 ns

  • 宽度

    7.62 mm

  • 长度

    32.005 mm

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